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布魯克ContourX輪廓儀:專注高效小樣品檢測 在對于專注于微型器件、材料小樣片或需要進行高通量測量的用戶而言,儀器的緊湊性和測量效率顯得尤為重要。布魯克ContourX-100三維光學輪廓儀正是針對這類應用場景優(yōu)化設計的經(jīng)濟型產(chǎn)品。
更新時間:2026-01-05
產(chǎn)品型號:ContourX-100
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布魯克ContourX輪廓儀:平衡性能與靈活性 在需要處理較大型工件的研發(fā)與質(zhì)量檢測環(huán)節(jié),對測量設備的樣品容量提出了要求。布魯克ContourX-500三維光學輪廓儀正是為滿足此類需求而設計。
更新時間:2026-01-05
產(chǎn)品型號:
瀏覽量:293
布魯克ContourX輪廓儀:應對大尺寸樣品測量 在需要處理較大型工件的研發(fā)與質(zhì)量檢測環(huán)節(jié),對測量設備的樣品容量提出了要求。布魯克ContourX-500三維光學輪廓儀正是為滿足此類需求而設計。
更新時間:2026-01-05
產(chǎn)品型號:
瀏覽量:373
認識布魯克ContourX系列輪廓儀 布魯克公司的ContourX系列三維光學輪廓儀,涵蓋了ContourX-500, ContourX-200和ContourX-100三種型號,為不同領域的表面三維形貌測量提供了多樣的選擇。這個系列的產(chǎn)品基于白光干涉技術(也稱垂直掃描干涉術),通過非接觸的方式,能夠?qū)某饣较喈敶植诘谋砻孢M行三維形貌測量和量化分析。
更新時間:2026-01-05
產(chǎn)品型號:
瀏覽量:335
Sensofar S neox:半導體封裝檢測精密工具 在半導體封裝制造、微型電子元件檢測、射頻器件研發(fā)等精密電子領域,對芯片鍵合線、封裝膠體、引腳等微觀結構的 3D 輪廓測量要求嚴苛,Sensofar 新型共聚焦白光干涉輪廓儀 S neox 憑借高分辨率測量能力與半導體行業(yè)適配設計,成為封裝質(zhì)量把控的實用工具,助力企業(yè)提升半導體產(chǎn)品的可靠性與良率。
更新時間:2026-01-05
產(chǎn)品型號:
瀏覽量:373
Sensofar S wide:大尺寸部件 3D 檢測利器 在汽車車身部件制造、航空航天結構件檢測、大尺寸玻璃面板質(zhì)量控制等領域,傳統(tǒng)小視野輪廓儀難以高效完成全尺寸檢測,Sensofar 大視野 3D 光學輪廓儀 S wide 憑借超大測量視野與快速拼接技術,成為大尺寸樣品 3D 輪廓分析的實用工具,為工業(yè)生產(chǎn)中大型部件的質(zhì)量把控提供高效解決方案。
更新時間:2026-01-05
產(chǎn)品型號:
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